Внедрение Ultima IV компанией Ригаку расширяет области применения рентгеновской дифракции
Компания Ригаку впервые представила свою новую модель Ultima IV на Рентгеновской конференции в Денвере, чем еще раз доказала общественности быстроту своей реакции, как компании-производителя, следовать последним тенденциям в исследованиях материалов и даже опережать их. Так революционным шагом в развитии аппаратных возможностей современных дифрактометров стало внедрение методов SAXS, малоуглового рентгеновского рассеивания, и in-plane, анализа в плоскости, в стандартную конфигурацию q/q дифрактометра. Теперь нет необходимости покупать два прибора или рисковать с синхротроном для решения такого рода задач.
SAXS / Малоугловое рентгеновское рассеивание
Опция SAXS была внесена Ригаку в ответ на необходимость исследования наноструктурных материалов. Для лучшего понимания всей морфологии наноструктурной системы необходим анализ и малоуглового и большеуглового диапазона углов кривой рассеивания. Малоугловое рассеивание применяется для определения дальнего порядка, включая определение взаимодействия между частицами и их размер. Большеугловой диапазон открывает фазовый состав анализируемого материала, размер кристаллитов, степень кристаллизации и др. Оба эти метода, также как и другое аналитическое оборудование, помогает охарактеризовать физические размеры наночастиц. SAXS-опция также расширена и для режима отражения при исследовании размера частиц и пор в тонких пленках на подложках, в том числе и в поверхности жидкостей.
In-plane / Анализ в плоскости
Приставка для рассеивания в плоскости с вращением детектора параллельно поверхности анализируемого образца также расширяют возможности анализа тонких пленок. В то время, пока большинство лабораторных исследований проводятся в стандартной геометрии, анализ на синхротроне обладает преимуществом в методе рассеивания для получения информации непосредственно с поверхности образца тонкой пленки. Поскольку пленки становятся все тоньше, ренгенодифракционные методы в стандартной геометрии либо дают слабую информацию, либо запутанную вследствие малых размеров кристаллитов или аморфности структуры. Многие свойства материалов обусловлены состоянием структуры в плоскости, нежели от структуры в поперечном ей направлении.
При появлении дифрактометра Ultima IV дифрактометрические исследования в плоскости могут быть теперь проведены в лабораторных условиях. Такие исследования могут помочь в построении функции фазового состава по глубине анализируемого слоя, в определении преимущественных ориентировок, внутренних напряжений и пр. Нет и необходимости менять такую приставку под стандартные эксперименты, достаточно лишь изменит систему щелей.
Ultima IV Ригаку, как и младшие модели, имеет возможность быстрого изменения схемы фокусировки: расходящегося / параллельного пучка. Новая перекрестная оптика (комбинированная оптическая система), разработанная Ригаку, позволяет использовать либо одну, либо другую схему фокусировки в одном оптическом модуле. А изменение схем происходит одним быстрым поворотом фокусирующего зеркала с изогнутой поверхности на плоскую без какой-либо другой дополнительной перестройки «железа».
D/MAX UltimaIV
- Оптика для малоуглового рассеивания
- Анализ при высоких температурах
- Одновременное проведение рентгеноструктурного и дифференциального калориметрического анализа
- Max-Flux® оптика для рентгеновской рефлектометрии и задач тонких пленок
- Пространственный детектор для специальных задач
Материалы
- Порошки (поликристаллические, массивные материалы)
- Тонкие пленки (сегнетоэлектрики, магниты, и др.)
- Массивные монокристаллы
- Жидкости
Оптика
- Расходящийся и стандартный параллельный пучок
- Параллельный пучок
- Параллельный пучок высокого разрешения
Области применения
- Идентификация фаз
- Кристаллические структуры
- Размер кристаллитов
- Преимущественные ориентации
- Совершенство кристаллической структуры
- Степень кристаллизации
- Остаточные напряжения
- Функция радиального распределения
- Ориентация и структура тонких пленок
- Распределение размеров наночастиц и пор
- Многослойные структуры (толщина, плотность, шероховатость)
- Одновременный рентгеноструктурный и калориметрический анализ