Возможность использования методов порошковой дифракции для изучения природы и свойств материалов появилась вскоре после открытия явления рентгеновской дифракции Лауэ и Книппингом в 1910 году. Впервые конструкция простого порошкового дифрактометра была разработана Халлом в 1917 г. и использовалась для получения картин ряда простых материалов, таких как: алмаз, графит, железо. В течение нескольких последующих лет многие, включая Брэгга и Паулинга, использовали метод порошковой дифракции для изучения более широкого спектра веществ: металлов, минералов, простых органических твердых веществ.
Мощность методов порошковой дифракции такова, что послужила толчком в большинстве основных разработок новых материалов в последние годы: твердых электролитов, высокотемпературных сверхпроводников, фуллеренов, цеолитов и больших магниторезистивных материалов. Как следствие, порошковая дифракция была выделена в одну из наиболее значимых областей исследовательских методов.
